Bistua: Revista de la Facultad de Ciencias Básicas

 Artículo Completo

Abstract:
In this work we show a method that allows one to measure, with high precision, on a flat position, displacement and orientation of a mobile object. A reference pattern is fixed on the object’s surface and is located on the scene by means of a static imaging system with subpixel resolution, on the perpendicular plane to the optical axis. The use of 2D Fourier transformer, associated to the approach of a flat phase allows the high resolution of the system.

Resumen:
En este trabajo se implementa un método que permite medir con alta precisión, la posición, el desplazamiento y la orientación en el plano de un objeto móvil. Se fija una mira de referencia al objeto de estudio y se localiza en la escena por medio de un sistema de visión estático con resolución subpixel, en el plano perpendicular al eje óptico (in-plane) de la cámara. La utilización de la transformada de Fourier bidimensional, asociada a la aproximación del plano de fase, permite la alta resolución del sistema.