Bistua: Revista de la Facultad de Ciencias Básicas

 Artículo Completo

Abstract:
One common problem for several branches of the forensic investigation group is the need to make measurements and comparisons involving microscopic surfaces. The technology available for such measurements is limited by the high price of commercial equipment and also for their narrow ranges of application. In this paper we propose to use projection techniques with phase shifting to find the topography of small surfaces; moreover, we show our treatment to determine the carrier and the problem of phase unwrapping. This technique is illustrated with several examples of particular forensic case work in our country.

Resumen:
Uno de los problemas comunes en varias ramas de la investigación forense es la necesidad de realizar mediciones y comparaciones que involucran superficies microscópicas. Por lo general la tecnología disponible para este tipo de medidas está limitada por el elevado costo de los equipos comerciales y también por sus estrechos rangos de aplicación. En este trabajo se propone utilizar técnicas de proyección de franjas con corrimiento de fase para reconstruir la topografía de pequeñas superficies; se muestra además cómo se aborda la determinación del portador y el problema del desenvolvimiento de fase. La utilidad de esta técnica se ilustra con varios ejemplos particulares propios de la actividad forense de nuestro país.